普通LCR測(cè)試儀的使用方法

普通LCR測(cè)試儀的使用方法

         用LCR測(cè)試儀來測(cè)量零部件的參數(shù)時(shí)，其關(guān)鍵問題在于測(cè)量誤差。首先是LCR測(cè)試儀本身的內(nèi)部誤差，還存在各種各樣的原因，而與試樣的連接所引起的誤差，就是其中之一。由于LCR測(cè)試儀的型號(hào)不同，可能的連接方法也會(huì)有區(qū)別，在此我們整理一下五種連接方法的各自特點(diǎn)。一般來說，連接方法越麻煩，越能準(zhǔn)確地進(jìn)行測(cè)量。

 

廣泛的測(cè)量對(duì)象

　　無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測(cè)量。

 

　　半導(dǎo)體元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測(cè)量。

 

　　其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估。

 

　　介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評(píng)估。

 

　　磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估。

 

　　半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù),導(dǎo)電率和C-V特性。

 

　　液晶材料：液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。